高精薄膜测厚仪 发布时间：2013-7-24

国家标准 该设备满足多项国家和国际标准 GB/T6672-2001,ISO4593,ASTMD374,ASTM D1777,GB/T451.3,GB/T6547,ISO534,ISO3034等 产品特点 检定快速，准确。测量值由数显表直接显示，读数方便可靠，减少人为读数误差。 独特的设计使仪器结构稳定性很高，温度稳定性很好；测量重复性好，漂移量很小。 可实现任意位置清零、公/英制转换、预先置数、自动求*大值和*小值等多种智能功能。 可通过与计算机连接通讯实现测量结果的自动记录、自动处理、打印及统计分析等。 对环境温度波动相对不敏感，现有基层计量室不必提高温控要求即可使用。 产品应用 础适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试，还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测、试纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。 产品参数 指标 参数 测量范围 0-10mm 下测量面直径 不小于5mm 上测量面曲率半径 15-50mm 测量面施加压力 0.1-0.5N 接触面积 100mm² 自动进样间距 0-1000mm 自动进样速度 0.1-99.9mm/ 型 号 数显分辨率 *大示值误差 测量范围 DRK204A 0.1μm ±(0.4+0.04L)μm 0-10mm DRK204B 0.01μm ±(0.1+0.01L)μm 0-10mm DRK204C 0.001μm ±(0.03+0.003L)μm 0-10mm 产品配置 主机一台、合格证、说明书一份